Sistema completo de Microscopia de Fuerza Atómica para muestras de tamaño grande, incluyendo: escáner XY flexible-guiado completamente desacoplado, cabezal estándar de AFM NX, montaje de la muestra por vacío, platina XY motorizada, platina Z motorizada, platina de enfoque motorizada, ´óptica directa en el eje Z, cubierta acústica, aislamiento activo de vibraciones integrado, controladora electrónica NX, software SmartScan, software XEI, ordenador, y accesorios.