Sistema completo de Microscopia de Fuerza Atómica para muestras de pequeño y mediano tamaño, incluyendo: escáner XY de guiado flexible completamente desacoplado, cabezal estándar de AFM NX, portamuestras, platina XY motorizada, platina Z motorizada, platina de enfoque motorizada, óptica directa en el eje Z, cámara CCD de alta resolución con zoom digital con iluminación LED integrada, controladora electrónica, ordenador, software SmartScan, software XEI y accesorios.