Sistema completo para Microscopia de Fuerza Atómica para muestras de tamaño grande, incluyendo: dos escáneres independientes para XY y Z, control de lazo cerrado para los tres ejes, curvatura cero de fondo en el XY escáner, cabezal AFM XE, ´óptica directa en el eje Z, cámara CCD de alta resolución con zoom digital, enfoque motorizado en Z, platina XY micrométrica motorizada de tamaño grande con función Step & Scan, controladora electrónica, ordenador, software y accesorios