Microscopía de fuerza atómica para estudio con resolución nanométrica de propiedades mecánicas, térmicas, magnéticas y eléctricas. Dispone de sistema de barrido basado en pipeta para estudios de alta resolución con Microcopía de Barrido por Conductividad Iónica (SICM), Microscopía de Barrido Electroquímico (SECM), y Microscopía de Barrido Electroquímico para Células (SECCM). Compatible con Microscopía Óptica Invertida (IOM) para investigar sobre materiales transparentes e integración con microscopía de fluorescencia